我们知道，在 RS 锁存器中，输入信号由 11 变为 00 时，状态是不稳定的。能否利用这种不稳定性生成随机数？
事实上，前人早就想到了这个想法，并付诸实践，比如这篇论文。然而，网上鲜少有对相关内容的介绍。本文旨在概述论文的内容。
原理说来简单，但是为了让输出尽可能接近随机数，需要仔细设计电路的一些细节。影响随机性的因素有：
- 锁存器的内部不对称性；
- 芯片制造造成的不对称性；
- 来自电路其他部分的影响；
- 输入输出结点先前残留的电荷的影响。
仔细地布局电路，将锁存器对称地排布，可以消除内部不对称性；使用另一个锁存器，将原锁存器与电路的其他部分隔离开来；使用开关清除残留电荷。这样，除了芯片制造不可避免的公差以外，其余的问题均得到解决。电路图如下：
- 时间段 T4 中，开关 S1、S3 闭合，清除残留电荷；S2 断开，避免信号传播到后面。L1 的输入 \(R,S\) 均为 1，\(Q,\overline{Q}\) 均为 0。
- 时间段 T1 中，开关 S1、S2 断开，S3 闭合。L1 的输入 \(R,S\) 均为 0，开始震荡。在现实中，锁存器的震荡不可能一直持续，而是会存在一个“解决时间”（resolution time），表示震荡不会长于这个时间；我们要求 T1 大于解决时间，这样到下一个阶段开始时，L1 的输出已经稳定。
- 时间段 T2 中，开关 S1、S3 断开，S2 闭合。L1 的最终输出传递给 L2，这样生成的随机数就被锁存在 L2 中。
为了减小相邻数字之间的相关性，还可以每若干个输出取样一次，并舍弃其余的数。论文中测试的结果是：每 4 个数取样一次，就可以通过大部分的随机性检测。